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顯微熔點儀X-4

簡要描述:熔點測量範圍:室溫至320℃ 測量重複性:±1℃(在<200℃時) ±2℃(在200~300℃時)

產(chan) 品型號: X-4

所屬分類:熔點儀(yi)

更新時間:2024-12-02

廠商性質:生產(chan) 廠家

詳情介紹

測定物質的熔點。用於(yu) 藥物、化工、紡織、染料等晶體(ti) 有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱台法)測定。    
 
X-4顯微熔點儀(yi) 產(chan) 品介紹  
  
 熔點測量範圍:室溫至320℃ 

測量重複性:±1℃(在<200℃時) 
          ±2℃(在200~300℃時) 

光學放大倍數:目鏡10X;物境4X  
 



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