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激光粒度分析儀

簡要描述:測試範圍:0.1μm -1000μm
進樣方式:空氣連續噴射
重複性誤差:≤ 3% (標樣D50偏差)
準確性誤差:≤ 3% (標樣D50偏差)

產(chan) 品型號: BT-2001

所屬分類:密度計

更新時間:2024-12-05

廠商性質:生產(chan) 廠家

詳情介紹


        BT-2001激光粒度分析儀(yi) 是國內(nei) *的幹濕法兩(liang) 用的高性能激光粒度儀(yi) 。幹法製樣係統包括靜音空壓機、空氣過濾器、全自動幹法分散係統、樣品收集器等部分組成。在幹法狀態下,樣品通過自動幹粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中,在高壓氣流的帶動下連續高速噴射到分散器中,在到達分散器出口處樣品已經被充分分散,穿過BT-2001激光粒度儀(yi) 的激光束之後樣品進入收集器中,同時電腦立刻顯示出粒度分布信息。濕法製樣係統是BT-800自動循環分散係統,包括攪拌器、超聲波分散器、循環泵、測試窗和管路等。用於(yu) 幹法測試和濕法測試的測試窗可以很方便地互換,真正實現一機多用。BT-2001激光粒度儀(yi) 的測試部分采用進口的半導體(ti) 激光器和高靈敏度光電接收器陣列,采用多通道數據轉換電路與(yu) 串行數據傳(chuan) 輸方式,配合自動對中係統等一係列*的技術和製造工藝,使該儀(yi) 器具有準確可靠、測試速度快、重複性好、操作簡便、適用領域廣泛等突出特點。該儀(yi) 器尤其適合對不能用濕法進行粒度測試的行業(ye) (如磁性材料、醫藥、水泥等)和綜合研究機構以及大專(zhuan) 院校實驗室應用。 

一、性能指標

幹法: 
測試範圍:0.1μm -1000μm 
進樣方式:空氣連續噴射 
重複性誤差:≤ 3% (標樣D50偏差) 
準確性誤差:≤ 3% (標樣D50偏差) 
測量原理:米氏散射理論 
激光光源:進口半導體(ti) 激光器 
軟件運行環境:WinXP / Win7 
接口方式:RS232或USB方式 
光電探測器:形狀:扇形;數量80個(ge) (前向72個(ge) ,側(ce) 向8個(ge) ) 
分散介質:壓縮空氣或惰性氣體(ti)  
壓力:0.1-0.8Mpa連續可調 
氣體(ti) 流量:400-6000 L/min 
樣品用量:5g-20g

濕法: 
測量範圍:0.1μm-1000μm 
重複性誤差:< 1% (標樣D50偏差) 
準確性誤差:< 1% (標樣D50偏差) 
測量原理:米氏散射理論 
激光光源:進口半導體(ti) 激光器 
超聲波功率:50W 
循環池容積:500ml 
循環流量:500-2500ml/分鍾 
攪拌器轉速:500-2500轉/分鍾

二、適用領域
幹法適用領域 
各種磁性材料:如釹鐵硼粉、軟磁粉、硬磁粉、鐵氧體(ti) 、鈷粉、鐵粉等磁性材料。 
不宜用濕法測試的粉體(ti) :如水泥、西藥、中藥、保健品、食品、化工材料等。 
具有疏水特性的粉體(ti) ,如改性的各種礦粉、有機化合物粉。 
濕法適用領域 
各種非金屬粉:如碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、矽酸鋯、矽灰石、石墨、粉石英、電氣石、雲(yun) 母、重晶石、石膏、膨潤土、金剛石、石英、矽藻土、長石、透閃石、粘土、石榴石、蛭石、鈦白粉等。 
各種金屬粉:如鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉以及其他稀有金屬粉和各種合金粉等。 
其它粉體(ti) :如醫藥、農(nong) 藥、磨料、食品、水泥、陶瓷、土壤、顏料、科研教學、石油勘探、地質分析、河流泥沙、電子材料、化工材料、軍(jun) 工材料、電池材料、各種乳濁液、塗料等。 
三、基本特點
集幹法測試和濕法測試於(yu) 一體(ti) ,幹、濕法均為(wei) 模塊化設計,轉換僅(jin) 需要兩(liang) 分鍾。整個(ge) 係統幾乎適合所有粉體(ti) 的粒度測試。 
幹法製樣係統中,加樣、送氣、測試、收集等操作均由電腦統一控製,按事先設定好的程序自動完成,操作簡便。 
采用*設計的幹法分散係統,通過剪切、慣性、碰撞等方法保證粉體(ti) 在通過測量窗口時處於(yu) 充分分散狀態。 
采用無油靜音空氣壓縮機,配以高效濾水器,保證產(chan) 生純淨壓縮空氣的同時,還具有噪音小、自啟動、自停車、運行時間長等優(you) 點。 
濕法樣品製備係統具有自動進水、自動排水、自動清洗、超聲分散定時、流量調整、水位檢測等功能,操作簡便,分散*,測試準確。 
由精密混合式步進電機,精密導軌、絲(si) 杠、連接軸以及細分控製器組成的三維自動對中係統,zui小步距1.3微米,保證激光束焦點始終照在探測器中心點上,提高測試結果的準確性。 
*的準確性標定功能:所有儀(yi) 器都通過標準樣品的標定,充分保證儀(yi) 器測試結果的準確性。同時,隨儀(yi) 器向用戶提供標準樣品,用戶可以隨時檢驗儀(yi) 器的準確性,避免因為(wei) 儀(yi) 器漂移、電壓波動等因素使測試結果不準而帶來的損失。 



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